（美）塞纳拉伯丁·纳瓦比（ZAINALABEDINNAVABI）著；贺海文，唐威昀译2015 年出版370 页ISBN：9787111501541
这本书论述了数字系统测试和可测性设计，它通过数字电路设计实例和方法阐明了测试和可测试性的概念。本书还采用Verilog模型和Verilog测试平台实现并解释故障仿真和测试生成算法。本书的最大特点是广泛地使用...
阿布拉莫维奇（Abramovici，M.），布鲁尔（Breuer，M.A.），弗里德曼（Friedman，A.D.）著2004 年出版652 页ISBN：7302077479
本书共有15章，分为3部分。前8章为第一部分，主要介绍数字系统、数字微系统芯片缺陷的来源、逻辑描述的方法——故障的建模、故障模拟、测试单固定故障、测试桥接故障、智能数字系统的功能测试及范围等；第9至第1...
（美）克拉茨（Crouch，A.L.）著；何虎等译2006 年出版284 页ISBN：7111187067
本书介绍测试和可测试性设计基本概念。
（美）阿布拉莫韦奇（Abramovici，M.）等著；李晓维等译2006 年出版449 页ISBN：7111192370
本书系统地介绍了结构测试的理论和方法、可测试性设计理论和度量方法、测试数据的处理及简化的理论和方法以及智能芯片测试理论和方法。
（美）阿尔佛雷德著2004 年出版348 页ISBN：7508319044
本书跳过高深的理论和数学公式，直击现实世界中的数字设计和测试工作。学习实用的测试策略，以满足对品质、可靠性及成本控制的业务需求，并在紧张压力环境下按期完成任务。本书将帮助读者优化设计，在工程上权衡某...
