数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计

本书跳过高深的理论和数学公式，直击现实世界中的数字设计和测试工作。学习实用的测试策略，以满足对品质、可靠性及成本控制的业务需求，并在紧张压力环境下按期完成任务。本书将帮助读者优化设计，在工程上权衡某些资源（如，硅片面积、工作频率和功耗）之间的关系；在整体上实现测试成本、面市时间和量产时间的平衡。此外，通过特定的测试模式自动生成（automatic test pattern generation，ATPG）工具还将提升工作效率。