数字系统测试和可测性设计相关电子书下载

雷绍充，邵志标，梁峰著2005 年出版286 页ISBN：7121003791

本书系统介绍超大规模集成电路（VLSI）的测试方法学和的可测性设计，为读者进行更深层次的电路设计、模拟、测试和分析打下良好的基础，也为电路（包括电路级、芯片级和系统级）的设计、制造、测试和应用之间建立一个.....

（美）P.K.拉拉著1989 年出版308 页ISBN：

（美）拉拉（Lala，P.K.）著；孟永炎等译1989 年出版308 页ISBN：7113004164

（日）绪方胜，廖新著；华东工程学院译1979 年出版93 页ISBN：

陈光〓，潘中良编著1997 年出版313 页ISBN：7505337440

丁瑾编著1996 年出版211 页ISBN：7563502459

胡靖著2014 年出版320 页ISBN：9787811295023

本书分析了可逆电路的工作特点，采用矩阵模型和符号代数作为理论基础，提出了一种符号综合方法；研究了可逆电路的时延分析问题，探讨了串扰时延的计算方法，进一步在考虑面积、时延、串扰等约束下综合过程。...

田仲，石君友编著2003 年出版415 页ISBN：781077297X

本书全面介绍了测试性设计分析与验证的有关理论和方法，内容包括：测试性和诊断概念、度量参数和指标、测试性要求和诊断方案、测试点与诊断策略、指标分配和预计以及测试性设计和验证等技术及方法。...

尚琼，陈伟英等编译1991 年出版533 页ISBN：7507707784

2222 年出版0 页ISBN：