方毅，方宾夏，方宾观，王存，王复，王蕴章，杜亚泉，杜就田，吴继杲，孟森，周之彦，周锡三，杜君复，马云骏，马云鹏，高凤谦，徐珂，徐铣，孙信，孙毓修，夏际唐，陆尔奎，陆嗣章，凌昌焕，郭秉文，陈蓉，陈承泽，陶保霖，庄俞，张元济，张世1933 年出版1640 页ISBN：
方毅，方宾夏，方宾观，王存，王复，王蕴章，杜亚泉，杜就田，吴继杲，孟森，周之彦，周锡三，杜君复，马云骏，马云鹏，高凤谦，徐珂，徐铣，孙信，孙毓修，夏际唐，陆尔奎，陆嗣章，凌昌焕，郭秉文，陈蓉，陈承泽，陶保霖，庄俞，张元济，张世1919 年出版1640 页ISBN：
王蕴辉，于宗光，孙再吉主编2007 年出版514 页ISBN：7030196384
本书共有9章，内容涉及半导体集成电路、混合电路、分立半导体器件、连接器、继电器、电容器和微特电机等元器件的可靠性设计技术。
