书籍 电子元器件可靠性设计的封面

电子元器件可靠性设计

王蕴辉 于宗光 孙再吉主编

出版社

北京:科学出版社

出版时间

2007

ISBN

7030196384

标注页数

514 页

PDF页数

535 页

书籍介绍
本书共有9章,内容涉及半导体集成电路、混合电路、分立半导体器件、连接器、继电器、电容器和微特电机等元器件的可靠性设计技术。
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