杜树春编著2012 年出版181 页ISBN：9787121186011
本书主要介绍用Proteus软件来测试数字集成电路功能的方法。这种测试方法方便、迅速、麻烦少、成本低，可以说是一条快速掌握数字集成电路用法的捷径。本书共分8章，第1章介绍集成电路基础知识，第2章介绍利用Prot...
靳松，韩银和著2019 年出版181 页ISBN：9787302522997
本文的主要内容涉及了在纳米工艺下较为严重的晶体管老化效应-负偏置温度不稳定性（Negative bias temperature instability – NBTI）和制造过程中引起的参数偏差。介绍了参数偏差效应产生的物理机制及对电路服...
