靳松，韩银和著2012 年出版108 页ISBN：9787302285434
晶体管特征尺寸随着制造工艺的进步而不断缩小。这种趋势，虽然提高了芯片的性能，却恶化了集成电路的老化效应，对电路在其服役期内的可靠性造成了严重的威胁和挑战。本文的主要内容涉及了一种公认的在纳米工艺下...
（美）Michael L.Bushnell，（美）Vishwani D.Agrawal著；蒋安平，冯建华，王新安译2005 年出版511 页ISBN：7121014904
VLSI测试包括数字、存储器和混合信号三类电路测试，本书系统地介绍了这三类系统的测试和可测试性设计。全书共分三个部分。第一部分是测试基础，介绍了测试基本概念、测试设备、测试经济学和故障模型。第二部分...
（美）John P.Uyemura著；周润德译2004 年出版474 页ISBN：750539424X
本书介绍了CMOS数字大规模集成电路与系统设计的基础。全书分为三部分，第1部分介绍集成电路的逻辑与物理层设计，其中包括CMOS静态门的逻辑设计与信号控制、芯片生产与制造工艺、版图设计与CAD工具。第2部分讨...
