李晓维，韩银和，胡瑜等著2010 年出版344 页ISBN：9787030278944
本书内容涉及数字集成电路测试优化方法的三个主要方面：测试数据压缩、测试功耗优化、测试调度。包括测试数据压缩的基本原理,激励压缩的有效方法,测试响应压缩方法和电路结构；测试功耗优化的基本原理,静态测...
李凯编著2014 年出版411 页ISBN：9787302376118
本书对现代的计算机、智能手机、多媒体设备、航电设备内部或外部采用的高速数字接口做了系统归纳和总结。本书简要介绍了现代的计算机、智能手机、数字电视、多媒体设备的典型架构变化，对现代电子设备内部、...
张文垚，左德沅，钱伟泳编2006 年出版75 页ISBN：711307118X
本书介绍了铁路调度通信网的网络结构、检验测量的基本概念和测试基本要求。重点叙述接口电气性能和传输特性测试；用户线条件、用户信号方式及铃流和信号音检测；数字调度设备单机及系统基本功能的检验。还叙述...
（美）塞纳拉伯丁·纳瓦比（ZAINALABEDINNAVABI）著；贺海文，唐威昀译2015 年出版370 页ISBN：9787111501541
这本书论述了数字系统测试和可测性设计，它通过数字电路设计实例和方法阐明了测试和可测试性的概念。本书还采用Verilog模型和Verilog测试平台实现并解释故障仿真和测试生成算法。本书的最大特点是广泛地使用...
（美）NirajJha，SandeepGupta著2007 年出版704 页ISBN：7121045427
在半导体集成电路的设计与制造过程中，测试的重要性越来越突出，有关数字系统测试方面的书籍也不断出现，《数字系统测试》是这些书籍中内容十分全面丰富的一种。本书系统地介绍了数字系统测试相关方面的知识，包括...
阿布拉莫维奇（Abramovici，M.），布鲁尔（Breuer，M.A.），弗里德曼（Friedman，A.D.）著2004 年出版652 页ISBN：7302077479
本书共有15章，分为3部分。前8章为第一部分，主要介绍数字系统、数字微系统芯片缺陷的来源、逻辑描述的方法——故障的建模、故障模拟、测试单固定故障、测试桥接故障、智能数字系统的功能测试及范围等；第9至第1...
数字电视国家工程实验室（北京）编著2012 年出版175 页ISBN：9787030336330
本书首先介绍了深入浅出地无线通信的基础知识，包括基本概念、主要调制方式、信道编码技术及主要的信道模型，读者掌握了这些知识，对所测试的技术参数有清楚的认识。然后对激励器、发射机、信号覆盖及接收终端的...
