数字集成电路测试优化

本书内容涉及数字集成电路测试优化方法的三个主要方面：测试数据压缩、测试功耗优化、测试调度。包括测试数据压缩的基本原理,激励压缩的有效方法,测试响应压缩方法和电路结构；测试功耗优化的基本原理,静态测试功耗优化方法,动态测试功耗优化；测试压缩与测试功耗协同优化方法；测试压缩与测试调度协同优化方法；并以国产64位高性能处理器（龙芯2E和2F）为例介绍了相关成果的应用。