北京全品教育研究所组编;谢飞云主编;谢飞云,葛一氢,刘鸿儒,姜松祥,王红军,刘艳,陈梅桂等编2004 年出版126 页ISBN:780108134X
工业和信息化部电子第五研究所组编;恩云飞,来萍,李少平编著;师谦,许广宁,何小琦,何胜宗等编写组成员2015 年出版455 页ISBN:9787121272301
本选题是工程应用类书,主要介绍电子元器件失效分析技术。从失效分析概论、失效分析技术、失效分析方法和程序以及失效预防几个方面的内容,使读者全面系统地掌握失效分析方面的基础理论、基本概念,技术和设备、...
门素艳主编;北京全品教育研究所组编;门素艳,朱建英,张宏伟,周小静,刘艳丽,刘红梅,杨国香,赵艳生2004 年出版186 页ISBN:7801082931
周广忠主编;北京全品教育研究所组编;赵中华,周广忠,朱建英,张志芬,周小静,崔亚宁,刘兰敏,白纯会2004 年出版150 页ISBN:7801082990