书籍 电子元器件失效分析技术的封面

电子元器件失效分析技术

工业和信息化部电子第五研究所组编 恩云飞 来萍 李少平编著 师谦 许广宁 何小琦 何胜宗等编写组成员

出版社

北京:电子工业出版社

出版时间

2015

ISBN

9787121272301

标注页数

455 页

PDF页数

475 页

书籍介绍
本选题是工程应用类书,主要介绍电子元器件失效分析技术。从失效分析概论、失效分析技术、失效分析方法和程序以及失效预防几个方面的内容,使读者全面系统地掌握失效分析方面的基础理论、基本概念,技术和设备、方法和流程,指导开展相关的失效分析工作,并了解失效预防的一些基本方法和手段。
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