工业和信息化部电子第五研究所组编；恩云飞，来萍，李少平编著；师谦，许广宁，何小琦，何胜宗等编写组成员2015 年出版455 页ISBN：9787121272301
本选题是工程应用类书，主要介绍电子元器件失效分析技术。从失效分析概论、失效分析技术、失效分析方法和程序以及失效预防几个方面的内容，使读者全面系统地掌握失效分析方面的基础理论、基本概念，技术和设备、...
高保林主编；司法部司法鉴定科学技术研究所编著2001 年出版225 页ISBN：7800868508
本书有针对性地选择了近年来作者鉴定的部分复杂、疑难案件实例，反映出精神疾病司法鉴定理论与实践结合的概况。
