(美)拉尔(Pradeep Lall),派特(Michael G.Pecht),哈吉姆(Edward B.Hakim)著;贾颖,张德骏,刘汝军译2008 年出版218 页ISBN:7118054844
本书论述了温度对微电子和系统可靠性的影响,提出了一些新的失效模型和设计方法。
马汝军,张昭君著2003 年出版224 页ISBN:7806041974
《世界名人全传》收录对世界历史进程产生过重大影响的人物,从政治领袖到军事天才,从圣贤哲人到艺术巨匠,从科学大家到文化泰斗。本书为哥伦布卷。...