书籍 温度对微电子和系统可靠性的影响的封面

温度对微电子和系统可靠性的影响

(美)拉尔(Pradeep Lall) 派特(Michael G.Pecht) 哈吉姆(Edward B.Hakim)著 贾颖 张德骏 刘汝军译

出版社

北京:国防工业出版社

出版时间

2008

ISBN

7118054844

标注页数

218 页

PDF页数

235 页

书籍介绍
本书论述了温度对微电子和系统可靠性的影响,提出了一些新的失效模型和设计方法。
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