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温度对微电子和系统可靠性的影响
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(美)拉尔(Pradeep Lall),派特(Michael G.Pecht),哈吉姆(Edward B.Hakim)著;贾颖,张德骏,刘汝军译2008 年出版218 页ISBN:7118054844
本书论述了温度对微电子和系统可靠性的影响,提出了一些新的失效模型和设计方法。
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刘汝军主编1998 年出版234 页ISBN:7801392043
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叶汝军等编著2002 年出版254 页ISBN:750537852X
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施汝军编著2000 年出版418 页ISBN:7115089973
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黄敏,侯汝军编著2001 年出版197 页ISBN:7900335684
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马汝军,张昭君著2003 年出版224 页ISBN:7806041974
《世界名人全传》收录对世界历史进程产生过重大影响的人物,从政治领袖到军事天才,从圣贤哲人到艺术巨匠,从科学大家到文化泰斗。本书为哥伦布卷。...
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刘汝霖著2010 年出版307 页ISBN:9787561771436
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刘汝霖著2010 年出版740 页ISBN:9787561771436