（美）拉尔（Pradeep Lall），派特（Michael G.Pecht），哈吉姆（Edward B.Hakim）著；贾颖，张德骏，刘汝军译2008 年出版218 页ISBN：7118054844
本书论述了温度对微电子和系统可靠性的影响，提出了一些新的失效模型和设计方法。
JAMES A.F.STONER R.EDWARD FREEMAN1992 年出版734 页ISBN：0135443059
（美）MIKE MCSHAFFRY <em>DAVIDem>“REZ”GRAHAM著；师蓉，李静，李青翠译2016 年出版666 页ISBN：7115410344
（美）大卫·贝克（<em>Davidem> Becker），（美）罗伯特·李（Robert Lee）著；鲁儒珏译2004 年出版252 页ISBN：7801970837
本书帮助你了解一些大公司的面试情况，提示你应做好哪些准备。
（美）<em>Davidem> J.Stang，（美）Sylvia Moon著；程佩青等译1994 年出版718 页ISBN：7505318659
（英）大卫·卡特（<em>Davidem> Carter）著；（英）法兰克·格林纳维摄影1997 年出版311 页ISBN：7505713221
本书为世界知名的蝴蝶与蛾的图鉴，向读者介绍了区分蝴蝶与蛾的方法，并以详细的文字和清晰的图片把500多种蝴蝶与蛾的特征表现出来。
JOHN L HENNESSY，<em>DAVIDem> A PATTERSIN著；赖飞羆编译1991 年出版686 页ISBN：978957641
