贾新章，李京苑编著（西安电子科技大学电子信息学院）2004 年出版186 页ISBN：7121002043
本书介绍如何对电子元器件生产过程进行统计质量控制，包括实施SPC、Cpk和PPM技术的必要性、基本概念和方法，对元器件生产过程应用SPC和Cpk时出现的特殊问题和解决办法，重点在于帮助读者掌握如何解决实际应用中...
金惠芳，李东方，徐国平主编；牛炎，王永全，王学光，王弈，刘琴，陈海燕，胡耀芳，赵祖荫，徐玉麟等编2007 年出版215 页ISBN：7309055837
本书叙述教学内容并配备实验举例、实验内容和操作练习题。
Philip M. Lewis著（美国纽约州立大学Stony Brook分校计算机科学系）2002 年出版1014 页ISBN：7040113961
