统计过程控制与评价 Cpk、SPC和PPM技术

本书介绍如何对电子元器件生产过程进行统计质量控制，包括实施SPC、Cpk和PPM技术的必要性、基本概念和方法，对元器件生产过程应用SPC和Cpk时出现的特殊问题和解决办法，重点在于帮助读者掌握如何解决实际应用中的问题。