雷绍充等编著2012 年出版257 页ISBN：9787560539751
本书系统介绍了SOC测试方法与结构，主要内容包括SOC测试的原理和标准，扫描测试与内建自测试，软件自测试，测试压缩，低功耗测试等。
（美）Rochit Rajsuman著；于敦山等译2003 年出版210 页ISBN：7810773089
本书分为设计和测试两个部分，分别介绍SoC的设计方法和测试方法。在设计部分，介绍SoC设计与传统的ASIC设计流程的差别及会遇到的问题，逻辑核、存储器核及模拟核的设计方法和需要注意的问题以及SoC系统的验证方...
沈理编著2006 年出版260 页ISBN：7306026828
本书内容包括集成电路的发展、SOC设计方法学、SOC/ASIC测试方法学、SOC/ASIC验证方法学、Philips SOC设计平台的实例等。
潘中良著2009 年出版323 页ISBN：9787030256720
本书对系统芯片SoC的设计与测试技术进行了全面阐述。全书共分为16章，主要内容包括：系统芯片的设计模式与流程、系统芯片的总线结构、IP芯核的设计、软/硬件协同设计、系统芯片的存储系统设计、系统芯片的低功...
（美）罗文（Rowen，C.）著；吴武臣等译2006 年出版321 页ISBN：711119215X
本书综合考虑硬件/软件设计方法，全面、系统地介绍以微处理器为中心的SOC（片上系统）设计。
罗胜钦编著2007 年出版474 页ISBN：7111218612
本书内容包括集成电路工艺及版图基础，CMS数字电路等方面的知识。
