王玉荣,张应昌主编1986 年出版323 页ISBN:7536907974
本书阐述了公差与测量技术基础标准的基本概念和主要内容,介绍应用这些标准的基本原则及方法,常规测量技术的基本原理和测量方法,常用精密仪器的结构及操作技术等。...
张玉,刘平主编2006 年出版272 页ISBN:7811023024
本书包括几何量测量新技术,形状和位置公差,光滑工件尺寸检验,极限量规,滑动轴承的公差与配合等。
叶盛祥编著2003 年出版230 页ISBN:7537235651
本书系统全面介绍了光电位移精密测量技术的原理、设计和应用,内容包括光栅、莫尔知识、编码盘制造检测、读数头和光学系统、信号等的应用。...