书籍 微电子材料性能测试实验的封面

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应物教研室编

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6

出版社

应物教研室

出版时间

1998

ISBN

标注页数

43 页

PDF页数

46 页

图书目录

实验一 半导体温差电效应及其导电类型的测定 1

实验二 晶体管击穿电压及其硅单晶电阻率的测定 6

实验三 硅片的化学腐蚀及其位错的测定 20

实验四 硅材料的力学性能及其抗弯强度的测定 39

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