书籍 元器件和半导体领域专利审查案例评析的封面

元器件和半导体领域专利审查案例评析

李永红主编

出版社

北京:知识产权出版社

出版时间

2013

ISBN

9787513021029

标注页数

124 页

PDF页数

131 页

书籍介绍
本书以新颖性、创造性判断为主线,针对元器件、半导体领域提供了一些具有典型性的审查案例并进行分析。其中,既有涉及检索技巧的专业介绍,也有涉及技术理解、法律判断的一些案例。有些案例很有特点,分析也颇有深度。
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