综合孔径成像原理与应用

本书主要包括：范西特—泽尼克定理、阵列优化和设计、相位误差和相位校正、图像重构和图像复原、光学综合孔径直接成像系统原理、探测器采样、被动毫米波综合孔径成像系统、多圆周阵列结构及其优化、相位误差测量与补偿方法、改进型维纳滤波法、图像重构技术综合孔径成像系统的最新技术等内容。第一章综合孔径成像导论。本章介绍了综合孔径成像技术的基本概念、分类、国内外研究现状，以及目前主流的应用。第二章综合孔径成像基础。本章简述了掌握综合孔径成像技术所必备的数学基础，如卷积、相关、傅里叶变换等运算，以及相关的物理基础，如非相干成像系统中的点扩散函数和光学传递函数、部分相干成像理论中著名的范西特—泽尼克定理。第三章综合孔径成像的关键技术。本章综述了综合孔径成像系统的三个共性关键技术，包括阵列优化和设计、相位误差和相位校正以及图像重构和图像复原。第四章光学综合孔径直接成像系统。本章针对光学波段的综合孔径成像系统进行了深入分析，介绍了光学综合孔径直接成像系统的原理，并分别阐述了阵列优化和设计、相位误差和相位校正、图像重构和图像复原、探测器采样等关键问题，最后给出了实验方法。第五章被动毫米波综合孔径成像系统。本章针对