书籍 大气中子在先进存储器件中引起的软错误的封面

大气中子在先进存储器件中引起的软错误

(日)中村刚史 马场守 伊部英治等著 陈伟 石绍柱 宋朝晖 王晨辉译

出版社

北京:国防工业出版社

出版时间

2015

ISBN

9787118102840

标注页数

219 页

PDF页数

234 页

书籍介绍
本书共分八章。第一章,绪论;第二章,大气中子能谱和剂量;第三章,大气中子场的辐照实验;第四章,中子辐照试验装置;第五章,试验数据的评述和讨论;第六章,蒙特卡洛模拟方法;第七章,模拟结果及其意义;第八章,中子试验方法的国际标准。
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