书籍 公差配合与测量技术的封面

公差配合与测量技术

李坤淑 杨普国 钱斌主编

出版社

北京:机械工业出版社

出版时间

2010

ISBN

9787111296584

标注页数

180 页

PDF页数

188 页

书籍介绍
本书主要内容包括:绪论光滑圆柱结合的极限与配合,测量技术基础、形状和位置公差及检测、表面粗糙度及检测等。
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