书籍 公差与测量技术的封面

公差与测量技术

姜明灿 张正祥 吴水萍主编

出版社

武汉:华中科技大学出版社

出版时间

2006

ISBN

7560938485

标注页数

178 页

PDF页数

188 页

书籍介绍
本书内容包括:测量技术基础、尺寸公差与检测、形位公差与检测、表面粗糙度与检测、圆锥和角度公差与检测、光滑极限量规设计、常见结合件(键连接、普通螺纹连接、滚动轴承)的公差与检测、尺寸链基础、渐开线圆柱齿轮精度简介等内容。
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