扫描电镜测长问题的探讨

本书汇集了微米、纳米长度的扫描电镜测量领域的多年研究成果，其内容包括了对扫描电子显微镜实验的认证和认可问题进行了释疑，简要论述了与测长相关的技术问题，对提高实验室的分析水平具有重要意义。