书籍 微电子计量测试技术的封面

微电子计量测试技术

沈森祖 韩红星等

出版社

西安:西北工业大学出版社

出版时间

2009

ISBN

9787561225165

标注页数

227 页

PDF页数

245 页

书籍介绍
本书从工程应用出发,系统论述了微电子计量/测试的基本概念、技术和方法。
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