机电系统机内测试降虚警技术

测试性与机内测试（BIT）是当前国内外装备保障研究和应用的热点之一，国内外研究和应用实践表明，机内测试（Built－inTest,BIT）技术是解决装备测试诊断与维修保障的最有效技术途径之一。但机内测试的一个国际性难题就是解决虚警问题，虚警的存在，极大地影响了机电系统BIT技术的发展和深入应用。因此，开展机电系统BIT降虚警技术的研究具有重要的学术价值和工程实际应用价值。本专著系统的对BIT的虚警问题开展研究，针对机电系统机内测试广泛存在的虚警问题，对虚警的产生原因、机理及表现形式进行了深入分析和建模，根据机电系统特点，从信号获取层、信号处理层、诊断决策层三个层次及时间应力导致虚警的抑制、控制系统鲁棒性降虚警等角度详细阐述了降虚警的原理、模型和技术方法，给出了降虚警技术在典型机电系统中的应用案例。