书籍 半导体器件可靠性技术的封面

半导体器件可靠性技术

(日)安食恒雄主编 日本松下电子工业株式会社编 周南生等译

出版社

西安:西安电子科技大学出版社

出版时间

1991

ISBN

7560601669

标注页数

352 页

PDF页数

368 页

书籍介绍
本书论述了影响半导体分立器件和集成电路可靠性问题的各种因素及其解决办法,并对正在研究的课题也作了介绍。
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