半导体物理与测试分析

《半导体物理与测试分析》结合半导体实际较全面地论述了半导体物理的基础知识。全书共6章，主要内容为：半导体的基本性质；半导体中杂质和缺陷能级；平衡态半导体中载流子的统计分布；半导体的导电性；非平衡半导体中载流子的运动规律；pn结。《半导体物理与测试分析》可作为高等学校电子科学与技术、微电子学、以及应用物理等专业学生的教材，也可供从事相关专业的科技人员参考。