书籍 成像光谱岩矿识别方法技术研究和影响因素分析的封面

成像光谱岩矿识别方法技术研究和影响因素分析

张宗等著

出版社

北京：地质出版社

出版时间

2006

ISBN

7116048138

标注页数

218 页

PDF页数

229 页

书籍介绍
本书探讨了高分辨率遥感成像光谱与环境干扰因素之间的关系，阐述了该成像光谱所获取的岩矿光谱特征在实际上的应用。

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