书籍 公差配合与技术测量的封面

公差配合与技术测量

徐智跃 孙伟主编 茅启国 王晓萍 吴韶华副主编 高云茜参编

出版社

武汉:华中科技大学出版社

出版时间

2013

ISBN

9787560985060

标注页数

213 页

PDF页数

223 页

书籍介绍
本书共分六个项目、27个学习任务,分别介绍零件的互换性、零件尺寸公差、标准及检测、装配件的公差与配合、标准及检测、零件几何公差与检测、零件表面粗糙度及检测、常用结合件的公差及检测。本书内容全面,编写结构完整。
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