书籍 现代集成电路测试技术的封面

现代集成电路测试技术

时万春等编著

出版社

北京:化学工业出版社

出版时间

2006

ISBN

7502581316

标注页数

540 页

PDF页数

551 页

书籍介绍
本书介绍了SOC测试、测试开发系统、测试标准、测试验证系统等。
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