书籍 聚合物表面分析 X射线光电子谱 XPS 和静态次级离子质谱 SSIMS的封面

聚合物表面分析 X射线光电子谱 XPS 和静态次级离子质谱 SSIMS

(英)D.布里格斯(D.Briggs)著 曹立礼 邓宗武译

出版社

北京:化学工业出版社

出版时间

2001

ISBN

7502533974

标注页数

197 页

PDF页数

212 页

书籍介绍
本书深入论述了X射线光电子谱(XPS)和静态次级离子质谱(SSIMS)及其在聚合物材料研究中的应用,内容包括聚合物表面的重要性,X射线光电子谱(XPS)等。
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