空间单粒子效应

本书主要是针对电子学设计者，特别是与空间飞行器、导弹、航空电子学及其地面系统打交道的研究人员迫切需要针对单粒子翻转效应的全面知识培训而编译，本书的最终目的是实现可以减缓SEU（单粒子翻转）效应的电子学加固设计。由于SEU随着未来芯片中晶体管密度的逐渐增加而日趋严重，本书对于该领域中研究人员来说是极有价值的参考读物。本书分为八个章节，分别为绪论、单粒子效应空间环境描述、基本物理量引入及概念、单粒子效应模拟试验、单粒子翻转错误率、单粒子现象I、单粒子现象II和单粒子效应实践知识。