书籍 互换性与测量技术的封面

互换性与测量技术

黎传 袁斌主编

出版社

广州:华南理工大学出版社

出版时间

2008

ISBN

9787562328384

标注页数

175 页

PDF页数

187 页

书籍介绍
本书内容包括形状和位置公差、尺寸极限与配合、表面粗造度、几何测量技术基础、几何量参数检测、几种结合件的公差设计、螺纹结合的互换性等。
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