书籍 分析晶体缺陷的电子显微术的封面

分析晶体缺陷的电子显微术

(美)洛雷托 (美)斯莫尔曼著 康振川 王桂金译

出版社

上海:上海科学技术出版社

出版时间

1979

ISBN

15119·2028

标注页数

111 页

PDF页数

115 页

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