书籍 微波器件电磁损伤规律研究的封面

微波器件电磁损伤规律研究

谭志良 马立云 宋培姣 谢鹏浩 王玉明著

出版社

北京:科学出版社

出版时间

2018

ISBN

9787030591128

标注页数

210 页

PDF页数

219 页

书籍介绍
本书由浅入深、系统地介绍了几种常用的微波半导体器件的电磁损伤机理。为便于读者自学和参考,本书首先介绍了几种微波半导体器件基础知识和典型的电磁脉冲及其效应;然后重点通过仿真分析和实验分析介绍了几种微波半导体器件的电磁损伤机理;最后简要介绍了几种半导体器件电磁损伤模型。
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