电子封装可靠性与失效分析

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汤巍，景博，盛增津编著2018 年出版175 页ISBN：9787560649580

本书系统阐述了电子封装环境可靠性试验的方法及失效分析技术，介绍了电路板级焊点疲劳失效机制、影响因素，揭示了单一载荷及多场耦合条件下焊点失效的模式、机理，并提出了评估方法。全书介绍了电子封装技术基础...