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自动测试及接口技术
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陈长龄等编著2005 年出版267 页ISBN：7111157796
本书介绍了现代自动测试系统体系结构模型的发展概况。
皇朝经世文编 卷91-100
（清）贺长龄1887 年出版200 页ISBN：
皇朝经世文编 卷81-90
（清）贺长龄1887 年出版231 页ISBN：
皇朝经世文编 卷71-80
（清）贺长龄1887 年出版188 页ISBN：
皇朝经世文编 卷21-30
（清）贺长龄1887 年出版223 页ISBN：
皇朝经世文编 卷1-10
（清）贺长龄1887 年出版205 页ISBN：
皇朝经世文编 卷111-120
（清）贺长龄1887 年出版221 页ISBN：
皇朝经世文编 卷101-110
（清）贺长龄1887 年出版186 页ISBN：
皇朝经世文编 卷51-60
（清）贺长龄1887 年出版234 页ISBN：
皇朝经世文编 卷11-20
（清）贺长龄1887 年出版204 页ISBN：
