范燕平,高伟娜著2014 年出版180 页ISBN:9787515907352
总结了以往型号用电子产品研制过程中出现的质量问题,包括:设计缺陷、工艺缺陷、电子装联操作缺陷、调试和测试本书质量问题和静电防护等五各方面的内容。所涉及的产品对象为:印制板电路、印制板组装件和整机,通...
黄燕平编著2005 年出版266 页ISBN:7810777254
本书主要介绍一种嵌入式操作系统内核体系结构方案,以μC/OS-Ⅱ和μRtos内核对比说明这种内核体系结构,并针对ARM微处理器具体情况进行详细介绍;从设计方法角度详细说明如何结合对内核的理解进行嵌入式产品的开...
(美)舒伯利·C·昆伯卡,C·A·诺克斯·拉维尔著2007 年出版254 页ISBN:7309057805
本书全面系统阐述了计量经济学的随机模型分析。