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本书系统地介绍了结构测试的理论和方法、可测试性设计理论和度量方法、测试数据的处理及简化的理论和方法以及智能芯片测试理论和方法。
(美)(M.米纳西)Mark Minasi等著;徐波等译1996 年出版432 页ISBN:7505336525
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(美)(M.道奇)Mark Dodge等著 林峰,万瑞萍译1996 年出版720 页ISBN:7302022801
(美)艾米尔诺(Amiano,M.)等著2007 年出版292 页ISBN:7302163111
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(美)琳达·M.阿普盖特(Lynda M.Applegate)等著;李东译2000 年出版319 页ISBN:7810447173