雷绍充等编著2012 年出版257 页ISBN：9787560539751
本书系统介绍了SOC测试方法与结构，主要内容包括SOC测试的原理和标准，扫描测试与内建自测试，软件自测试，测试压缩，低功耗测试等。
雷绍充，邵志标，梁峰编著2008 年出版319 页ISBN：7121063077
本书系统化编撰迄今为止主流的方法学与结构，为读者进行更深层次的电路设计、模拟、测试和分析打下良好的基础，也为电路的设计、制造、测试和应用之间建立一个相互交流的平台。主要内容包括：电路测试基础，验证、...
雷绍充，邵志标，梁峰著2005 年出版286 页ISBN：7121003791
本书系统介绍超大规模集成电路（VLSI）的测试方法学和的可测性设计，为读者进行更深层次的电路设计、模拟、测试和分析打下良好的基础，也为电路（包括电路级、芯片级和系统级）的设计、制造、测试和应用之间建立一个.....
