工业和信息化部电子第五研究所组编;章晓文,恩云飞编著2015 年出版395 页ISBN:9787121271601
本书共11章,以硅集成电路为中心,重点介绍了半导体集成电路及其可靠性的发展演变过程、集成电路制造的基本工艺、半导体集成电路的主要失效机理、可靠性数学、可靠性测试结构的设计、MOS场效应管的特性、失效...
冶金工业信息标准研究院冶金标准化研究所,中国标准出版社第五编辑室编2007 年出版492 页ISBN:9787506644822
本汇编共收集截至2007年3月底国家批准发布的现行国家标准38项,冶金行业标准32项,商检标准2项。与前版相比,新增9项国家标准和行业标准,新修订标准16项,删除了5项。...