(美)戴夫·S.斯坦伯格著;李明锁,丁其伯译2012 年出版336 页ISBN:9787516500392
本书阐述了高温和温度循环对电子设备元件与电路板的机箱的力、应力和疲劳寿命的影响。
(美)葛瑞格·K.霍布斯(GreggK.Hobbs)著;丁其伯译2012 年出版125 页ISBN:9787516500309
本书介绍了高加速寿命试验的机理和方法、高加速应力筛选及验证和优化、故障机理的分析。
(美)戴夫·S.斯坦伯格著;常勇,丁其伯译2012 年出版201 页ISBN:9787516500286
本书阐述了积累疲劳损伤的概念,并介绍了人和应用这种概念来九所高中元件和组件及其引线和焊点在热循环和振动环境中积累的不同疲劳组合下用掉的疲劳寿命,给出了预防电子设备热循环和振动故障的设计方法和寿命...