(美)Michael L.Bushnell,(美)Vishwani D.Agrawal著;蒋安平,冯建华,王新安译2005 年出版511 页ISBN:7121014904
VLSI测试包括数字、存储器和混合信号三类电路测试,本书系统地介绍了这三类系统的测试和可测试性设计。全书共分三个部分。第一部分是测试基础,介绍了测试基本概念、测试设备、测试经济学和故障模型。第二部分...
约瑟夫 L·巴达拉可(Joseph L·Badaracco),理查德 R·埃尔斯沃思(Richard R·Ellsworth)著;罗耀宗译1994 年出版199 页ISBN:9570811897
(加拿)盖博格(O.L.Gamborg),(加拿)韦特(L.R.Watter)主编;钱迎倩等译1980 年出版143 页ISBN:13031·1250
(美)蒂斯代尔(S.L.Tisdale),(英)纳尔逊(W.L.Nelson)著;孙秀廷等译1984 年出版469 页ISBN:13031·2622
g.p.agarwal and l.de boer and h.brandl and l.dijkhuizen1990 年出版139 页ISBN:3540525696