（美）阿布拉莫韦奇（Abramovici，M.）等著；李晓维等译2006 年出版449 页ISBN：7111192370
本书系统地介绍了结构测试的理论和方法、可测试性设计理论和度量方法、测试数据的处理及简化的理论和方法以及智能芯片测试理论和方法。
阿布拉莫维奇（Abramovici，M.），布鲁尔（Breuer，M.A.），弗里德曼（Friedman，A.D.）著2004 年出版652 页ISBN：7302077479
本书共有15章，分为3部分。前8章为第一部分，主要介绍数字系统、数字微系统芯片缺陷的来源、逻辑描述的方法——故障的建模、故障模拟、测试单固定故障、测试桥接故障、智能数字系统的功能测试及范围等；第9至第1...
（美）杰克·伦敦（London，J.）著；于渝生改编；阿布都沙拉木·阿布力孜译2006 年出版213 页ISBN：7806589317
本书根据中国少年儿童出版社2000年12月出版的《中外文学名著》丛书翻译。
（美）梅丽莎·阿布拉莫维茨（MelissaAbramovitz）著；胡志安译2017 年出版104 页ISBN：9787547836644
内容提要本书涵盖了脑科学这一领域的诸多引人入胜的尖端话题，包括大脑通信系统、思维的控制作用和脑成像技术等。本书包含了具有高度感染力的照片和解释性的图表，令科学概念充满活力和趣味，在小读者眼前重现。...
（美）罗伯特·W.英格莱姆（ROBERT W.INGRAN），（美）托马斯·L.阿布莱特（THOMAS L.ALBRIGHT），（美）约翰·W.希尔（JOHN W.HILL）合著1998 年出版469 页ISBN：7810443739
（美）威尼·L.温斯顿（WayneL.Winston），（美）S.克利斯第安·阿布莱特（S.ChristianAlbright）著1998 年出版796 页ISBN：7810443860
（美）（R.沃纳）Richard Warner，（瑞士）（G.de 吉罗拉莫）Giovanni de Girolamo著；成义仁等译1997 年出版133 页ISBN：711702738X
